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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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SF-3/300 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì) 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實(shí)時(shí)、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/300
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SF-3/1300 OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì) 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實(shí)時(shí)、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/1300OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/1300
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SF-3/BB OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì) 用非接觸的溫哈和樹脂的超高速實(shí)時(shí)、高精度的測量。OTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/BBOTSUKA大冢-超高速分光干擾式厚度計(jì)SF-3/BB
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AT-1500 OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì) OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-1500OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-1500OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-1500
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AT-5000 OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì) OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-5000OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-5000OTSUKA大冢-非接觸光學(xué)厚度計(jì)AT-5000
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OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì) 在線薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場能夠?qū)Ρ∧さ哪ず襁M(jìn)行全幅、全長測量的裝置。 通過在獨(dú)自的分光干涉法中組合新開發(fā)的高精度膜厚演算處理技術(shù)，以每*短0.01秒的測定間隔，可以進(jìn)行500mm寬(1臺使用時(shí))的薄膜的膜厚測定。OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)OTSUKA大冢-線掃描膜厚計(jì)
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FE-5000S OTSUKA大冢-分光器 除了能夠高精度的薄膜解析的分光中，通過實(shí)現(xiàn)測量角度的自動可變機(jī)構(gòu)，也對應(yīng)于所有種類的薄膜。除以往的旋轉(zhuǎn)檢光子法之外，通過設(shè)置相位差版的自動脫穿機(jī)構(gòu)，提高了測定精度。OTSUKA大冢-分光器FE-5000SOTSUKA大冢-分光器FE-5000SOTSUKA大冢-分光器FE-5000S
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FE-5000 OTSUKA大冢-分光器 除了能夠高精度的薄膜解析的分光中，通過實(shí)現(xiàn)測量角度的自動可變機(jī)構(gòu)，也對應(yīng)于所有種類的薄膜。除以往的旋轉(zhuǎn)檢光子法之外，通過設(shè)置相位差版的自動脫穿機(jī)構(gòu)，提高了測定精度。OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000OTSUKA大冢-分光器FE-5000
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OTSUKA大冢-嵌入式膜厚監(jiān)視器 OTSUKA大冢-嵌入式膜厚監(jiān)視器 高精度地實(shí)現(xiàn)具有波長依存性的多層膜測量！
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MCPD series OTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD seriesOTSUKA大冢-膜厚測定用多頻道分光器MCPD series
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FE-300 OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器 是一種通過簡單操作實(shí)現(xiàn)高精度光干涉法的膜厚測量的小型低價(jià)格的膜厚計(jì)。 采用將必要的機(jī)器收納在機(jī)身部位的一體化體型外殼，實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)的獲取 通過獲取低價(jià)位的優(yōu)良反射率，也可以進(jìn)行光學(xué)常數(shù)的分析。OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器FE-300OTSUKA大冢-膜厚監(jiān)視器FE-300
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FE-3000 OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計(jì) 利用顯微的微小領(lǐng)域的優(yōu)良反射率的取得，通過高精度的光干涉法的膜厚解析可能的裝置。 多種多樣的樣品的膜厚·光，除了半導(dǎo)體領(lǐng)域的圖案樣品、透鏡和鉆孔之類的形狀樣品之外，還有表面粗糙度和膜厚不均的樣品。能夠進(jìn)行定數(shù)分析。OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計(jì)FE-3000OTSUKA大冢-反射性的分鐘光膜厚計(jì)FE-3000
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OPTM series OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計(jì)OPTM series
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GP-7 series 1000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng) 是光源單體和光學(xué)材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series1000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series1000
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GP-7 series 600 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng) 是光源單體和光學(xué)材料的配光的裝置.。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series600OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)GP-7series600
