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產品詳情
簡單介紹：
OTSUKA大冢-線掃描膜厚計
在線薄膜生產現場能夠對薄膜的膜厚進行全幅、全長測量的裝置。
通過在獨自的分光干涉法中組合新開發的高精度膜厚演算處理技術，以每*短0.01秒的測定間隔，可以進行500mm寬(1臺使用時)的薄膜的膜厚測定。OTSUKA大冢-線掃描膜厚計OTSUKA大冢-線掃描膜厚計
詳情介紹：
OTSUKA大冢-線掃描膜厚計
通過在獨自的分光干涉法中組合新開發的高精度膜厚演算處理技術，以每*短0.01 秒的測定間隔，可以進行500mm寬(1臺使用時)的薄膜的膜厚測定。
特長OTSUKA大冢-線掃描膜厚計OTSUKA大冢-線掃描膜厚計OTSUKA大冢-線掃描膜厚計OTSUKA大冢-線掃描膜厚計
通過采用線掃描方式實現沒有“脫落”的全長和全長膠卷檢查
硬軟件一起設計原創設計
因為是膜厚測定的專門制造廠，所以能夠充實的支持
高精度測量（取得磚利）
高速可以測量
強制性強
寬的樣本（可以在TD方向*大10m測量）
仕様
| 測定項目 | 膜厚（FFT） |
| 位置分解能 | 1mm |
| 測定幅 | 500mm |
| 波長範囲 | 400 ～ 920nm |
| 1素子當たりの波長幅 | 約 0.6nm |
| 膜厚測定範囲 | 2 ～ 250μm |
| 測定間隔 | 10msec ～ |
測定例
500mm幅の包裝用フィルムの場合
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