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產品詳情
簡單介紹：
OPTM series
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM series
詳情介紹：
OPTM series
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計
利用顯微分光的微小領域的**反射率測量，高精度的膜厚·光學常數解析可能的裝置。
各種薄膜、晶片、光學材料等涂層膜的厚度和多層膜可以非破壞、非接觸測量.。測定時間是能夠進行1秒/point的高速測定的，即使是初次測定的，也搭載了能夠簡單解析光學常數的軟件。
特長：
OTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM seriesOTSUKA大冢- 顯微分光膜厚計OPTM series
將膜厚測量所需的功能集中在頭部！
高精度的**反射率測量（多層膜厚，光學定數）
1點1秒以內的高速測量
在顯微鏡下實現廣闊的測量波長范圍的光學系統（紫外線-近紅外線）
區(qū)域傳感器的**機構
即使是**次進行光學定數解析的輕松解析危機
可定制測量序列的宏功能
對應各種定制
仕様
仕様
構成図
自動XYステージタイプ
測定項目
- 絶対反射率測定
- 膜厚解析
- 光學定數解析（n：屈折率、ｋ：消衰係數）
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