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代理OTSUKA大塚電子半導體SiC測厚儀OPTM-F2

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子半導體SiC測厚儀OPTM-F2，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀OPTM-F1代理

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OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A2顯微分光膜厚儀

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OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A1顯微分光膜厚儀

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江蘇代理OTSUKA大塚電子晶圓測厚系統

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚電子晶圓測厚系統 GS-300實現嵌入晶圓中的布線圖案的圖案對齊 GS-300滿足半導體工藝的高通量需求 GS-300支持凹口對齊功能
OTSUKA大塚電子晶圓非破壞性測厚儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實時和高精度測量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
OTSUKA大塚電子晶圓非破壞性測厚儀

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浙江OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀

OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000S塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000S除了可實現高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000S還可以通過實施自動可變測量角度機制來處理所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉分析儀方法外，通過安裝自動延遲板分離機構提高了測量精度。　
OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理

OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000除了可實現高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000還可以通過實施自動可變測量角度機制來處理所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉分析儀方法外，通過安裝自動延遲板分離機構提高了測量精度。　
OTSUKA大塚電子中國代理多通道光譜儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-6800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。除了顯微光譜、光源發光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子中國代理多通道光譜儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-9800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。除了顯微光譜、光源發光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
OTSUKA大塚電子光學膜測厚儀塔瑪薩崎

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子光學膜測厚儀使用光譜干涉測量的薄膜測厚儀可集成到各種制造設備中可進行實時薄膜厚度測量
上海代理OTSUKA大塚無損非接觸膜厚儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司上海代理OTSUKA大塚無損非接觸膜厚儀FE-300薄膜厚度計，通過操作簡單的高精度光學干涉測量實現薄膜厚度測量。
OTSUKA大塚江蘇代理顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測量各種薄膜，晶圓，光學材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會具有破壞性和非接觸性。
OTSUKA大塚橢圓光譜儀 FE-5000/5000S

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo OTSUKA大塚橢圓光譜儀 FE-5000/5000S
OTSUKA大塚嵌入式膜厚監測儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo OTSUKA大塚嵌入式膜厚監測儀

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