把女邻居弄到潮喷的性经历,亚洲顶级裸体av片,国产高清无密码一区二区三区

搜索

熱門搜索：

代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產業、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

產品中心

熱門品牌展示

產品展示

塔瑪薩崎Otsuka大塚光度計

使用靜態光散射法測量**分子量、慣性半徑和**維系數是可能的。
塔瑪薩崎Otsuka大塚光度計

使用動態光散射法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布），并使用靜態光散射方法測量**分子量、慣性半徑和**維真實系數。
塔瑪薩崎Otsuka大塚分析儀器

特點 ■納米SAQLA的特點一臺儀器可輕松連續測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現多個樣本的連續測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。支持從稀釋到厚系統標準測量時間 1 分鐘的高速測量自動調整從厚系統到稀薄樣品的*佳測量位置，實現約 1 分鐘的高速測量簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可開始測量），無需復雜的操作內置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔，每個細胞都是獨立的，因此無需擔心不成問題。配備溫度梯度功能，可輕松設置溫度 ■AS50的特點連續測量多達 50 個樣本即使在測量過程中也能添加樣品樣品集簡單方便（*多可批量更換 50 個樣品）有機溶劑兼容（玻璃一次性電池）樣品容量 *小 0.4ml
塔瑪薩崎Otsuka大塚電位儀

該裝置可用于用稀釋溶液到濃縮溶液測量Zeta電位。測量電滲透流，使用*小容量為 130μL 的一次性電池進行測量，可實現高精度 Zeta 電位測量。此外，在0~90°C的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。
塔瑪薩崎Otsuka大塚澤塔電位儀

除了使用傳統稀釋溶液和濃縮溶液測量Zeta電位和顆粒直徑外，該裝置還能夠測量分子量。對應于顆粒大小測量范圍（0.6nm 至 10μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）。測量電滲透流，使用*小容量為 130μL 的一次性電池進行測量，可實現高精度 Zeta 電位測量。此外，在0~90°C的寬溫度范圍內，可以進行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。
塔瑪薩崎Otsuka大塚澤塔電位儀

[通過光散射評估物理性能在 ELSZneo 中進入一個新的階段] 除了在 ELSZseries 的**型號上用稀釋溶液到濃縮溶液測量 Zeta 電位和顆粒直徑外，該裝置還允許分子量測量。作為一項新功能，我們采用了多角度測量，以提高顆粒大小分布的分離能力。此外，還可以進行顆粒濃度測量、微流變測量和凝膠網絡結構分析。新開發的 Zeta 電位平板電池單元采用新開發的高鹽濃度涂層，可在高鹽濃度環境中（如鹽水）進行測量。我們還推出了超微量電池單元，可在 3μL 下測量顆粒大小，為生命科學領域擴展了可能性。
OTSUKA大塚電子 zeta 電位儀

除了常規的 zeta 電位和粒度測量外，它是一種可以測量分子量的設備，可通過稀溶液至濃溶液進行測量。支持粒度測量范圍（0.6 nm 至 10 μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量為 130 μL 或更大的一次性樣品池進行測量，通過實際測量電滲流來實現高精度的 zeta 電位測量。此外，通過在0～90°C的寬溫度范圍內進行自動溫度梯度測量，可以進行變性/相變溫度分析。
Otsuka單元間隙檢測裝置RETS系列

支持從反射/透射型 LCD 封閉單元到帶彩色濾光片的空單元的各種單元
蘇州代理OTSUKA激活測量儀 RETS-100nx

支持OLED用偏光板、層疊型相位差板、IPS液晶相位差板偏光板等各種薄膜的相位差測量裝置。實現與超高 Re.60000 nm 兼容的高速、高精度測量。可以“無剝離”和“無損”測量薄膜的層壓狀態。此外，它配備了簡單的軟件和校正功能，支持由于樣品重新定位而導致的錯位，從而實現簡單且高精度的測量。
蘇州代理OTSUKA 線掃描膜厚儀在線式

它是一種可以在在線薄膜生產現場測量薄膜厚度的設備。通過將開創的光譜干涉儀與新開發的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以 0.01 秒的測量間隔以*短的。
蘇州代理OTSUKA光譜干涉晶片測厚儀SF-3

在晶圓等的研磨和拋光過程中，晶圓和樹脂的厚度以超高速和高精度非接觸式測量。
蘇州代理大冢電子光譜橢偏儀 FE-5000 / 5000S

除了可以進行高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實現測量角度的自動可變機構來支持所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉式光子檢測器方法外，還通過提供相位差板的自動裝卸機構提高了測量精度。
蘇州代理大冢電子膜厚監測儀FE-300

它是一種緊湊且價格低廉的薄膜厚度計，通過高精度光學干涉法實現薄膜厚度測量，操作簡單。我們采用一體式外殼，將必要的設備容納在主體中，實現穩定的數據采集。可以通過以低廉的價格獲得優良反射率來分析光學常數。
蘇州代理日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM

OPTM 是一種通過使用顯微光譜法測量微小區域的優良反射率，實現高精度薄膜厚度和光學常數分析的設備。各種薄膜、晶片、光學材料和多層薄膜等涂膜的厚度可以非破壞性和非接觸方式測量。測量時間為1秒/點的高速測量是可能的。它還配備了軟件，即使是初學者也可以輕松分析光學常數。
蘇州代理光纖動態光散射光度計 FDLS-3000

使用固態激光器和高靈敏度檢測器（冷卻光電子雙管），可以測量0.5納米至5000納米顆粒的粒度和粒度分布（粒度和粒度分布）。
OTSUKA大塚電子動態光散射光度計 DLS-6500series

粒度/粒度分布（粒度/粒度分布）可以使用動態光散射法測量。

蘇公網安備 32050502000409號