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產品詳情
簡單介紹：
它是一種緊湊且價格低廉的薄膜厚度計，通過高精度光學干涉法實現薄膜厚度測量，操作簡單。
我們采用一體式外殼，將必要的設備容納在主體中，實現穩定的數據采集。
可以通過以低廉的價格獲得優良反射率來分析光學常數。
詳情介紹：
產品信息
特殊長度
- 支持從薄膜到厚膜的各種膜厚
- 使用反射光譜的薄膜厚度分析
- 實現非接觸、非破壞的高精度測量，同時緊湊且價格低廉
- 簡單的條件設置和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
- 可以通過峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優化法等進行多種薄膜厚度測量。
- 通過非線性*小二乘膜厚分析算法可以進行光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）。
測量項目
- 優良反射率測量
- 膜厚分析（10層）
- 光學常數分析（n：折射率，k：消光計數）
測量對象
-
功能膜、塑料
透明導電膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、粘合劑、保護膜、硬涂層、防指紋， 等等。 -
半導體
化合物半導體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、藍寶石等 -
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等 -
光學材料
濾光片、AR涂層等 -
FPD
LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機膜、灌封膠）等 -
其他
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硬盤驅動器、磁帶、建筑材料等。
規格
規格類型 薄膜型 標準型 測量波長范圍 300-800nm 450-780nm 測量膜厚范圍
（SiO 2換算）3nm-35μm 10nm-35μm 光斑直徑 φ3mm / φ1.2mm 樣本量 φ200 × 5 (H) mm 測量時間 0.1-10s內 電源 AC100V ± 10% 300VA 尺寸、重量 280 (W) x 570 (D) x 350 (H) 毫米，24 公斤 其他 參考板，配方創建服務 設備配置
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