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“光譜輻照度測量系統 IL100”評估光源的照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光和紅外線的寬測量波長范圍? 可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?光合作用研究必不可少的PFD和PPFD 可 通過專用軟件進行測量和照明 電源也是集體控制 這個設備追求到精良的基礎照度測量。
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評估光源在紫外線區域的輻射。 ? 通過光譜輻射度測量高精度測量亮度 ? 支持紫外線、可見光和紅外線的寬測量波長范圍 ? 可以進行光生物 **性評估 它是一種可以測量紫外線亮度的有限設備。
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“紫外分光輻照度測量系統IL100”評估光源在紫外區的輻照度。 ?從光譜輻照度測量中高精度測量照度 ? 從紫外線到可見光的寬測量波長范圍 ?可選擇的照度頭適用于高斜入射特性等應用 ?可以進行生物系統評估必不可少的PFD測量 它是一種即使在紫外線區域也能實現高精度測量的設備。 產品咨詢
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評估 UV LED 的輻射通量。 ? 性能更高的紫外線 LED 的輸出評估 ? 溫度評估與溫度控制單元相結合 支持 紫外線 LED 的 光學特性評估，預計將被**、凈化和樹脂固化。
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它測量從 LED 到照明的各種光源的總光通量。 ?積分球+分光鏡支持從總光通量到顏色測量的廣泛范圍。 ?可以通過控制光源的加熱/冷卻來評估溫度特性 。繁瑣操作要求 測量精度高集成半球，樣品組方便 測量大功率激光光源瓦級對應 測量系統對應任何場景總光通量測量多年經驗，滿足需求支持。
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一種測量照明設備配光特性的裝置。 ?使用內部開發的分光鏡實現高精度測量！ -顏色可以與光分布數據一起測量！- 即使在光譜測量中也可實現相當于照度計類型的高速測量！ ?可根據配光測量結果進行照度分析！!! -符合標準測量系統！
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它是一種可以在薄膜生產現場在線測量薄膜厚度的設備。 通過將開創的光譜干涉技術與新開發的高精度膜厚計算處理技術相結合，可以以至少0.01的測量間隔測量寬度為500mm（使用一臺時）的膜厚秒。
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“一步操作”是一種追求用戶友好性的設備，無需任何繁重的工作，設置樣品即可立即看到結果。 該設備旨在縮短檢測過程，無需校準曲線即可高精度、高分辨率地輕松找到優良厚度。 由于使用了大冢電子開創的光學方法，因此可以在不接觸的情況下高精度測量不透明、粗糙表面和容易變形的樣品，同時節省空間。
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除了可實現高精度薄膜分析的光譜橢偏儀外，我們還通過實施自動可變測量機制支持所有類型的薄膜。除了傳統的旋轉光子檢測器方法外，還通過為延遲板提供自動安裝/拆卸機制來提高測量精度。
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它是一種緊湊、低成本的薄膜厚度計，它通過簡單的操作實現了高精度光學干涉測量的薄膜厚度測量。 我們采用一體式外殼，將必要的設備安裝在主體中，實現了穩定的數據采集。 通過以低廉的價格獲得**反射率，可以分析光學常數。
