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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
總代HORIBA崛場 橢圓偏振光譜儀UVISEL PLUS 光譜范圍從FUV到NIR：190-2100nm
UVISEL Plus橢圓偏振光譜儀為先進薄膜、表面和界面表征提供了模塊化和性能的優(yōu)化組合。
UVISEL Plus作為一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機型，它采用了PEM 相位調(diào)制技術(shù)，與機械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比， 能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。光譜范圍從190nm到2100nm。
詳情介紹：
總代HORIBA崛場 橢圓偏振光譜儀UVISEL PLUS 國內(nèi)各區(qū)域供應(yīng)
產(chǎn)品優(yōu)勢
- 高精度和高靈敏度
- 模塊化設(shè)計
- 寬光譜范圍： 190-2100 nm
- 集數(shù)據(jù)測量、建模和自動化操作為一體的軟件包
獲得的信息
- 膜層厚度，從1?到50 μm
- 表面和界面粗糙度
- 光學(xué)常數(shù) (n,k) ，適用于各向同/異性和漸變層
- 光學(xué)特性如：吸收系數(shù)α, 光學(xué)帶隙Eg
- 材料性能：合金成分、孔隙率、結(jié)晶度及形貌等
- 穆勒矩陣
- 退偏
UVISEL 規(guī)格
- 光譜范圍：標(biāo)配190-885nm，可擴展至近紅外2100nm
- 檢測系統(tǒng)：高分辨率光譜儀配合高靈敏探測器
手動配置
- 光斑尺寸：0.05 – 0.1 – 1 mm（針孔）
- 樣品臺：直徑150mm，手動調(diào)節(jié)高度（20mm）和傾角
- 卡位量角器：手動調(diào)節(jié)角度，從55°到90°，步徑5°
自動配置
- 光斑尺寸：0.05 - 0.1 - 1 mm或0.08 - 0.12 - 0.25 - 1.2 mm（針孔）
- 自動樣品平臺：200 x 200mm或300 x 300mm，手動調(diào)節(jié)高度（4mm）和傾角；XYZ樣品臺，theta平臺
- 自動量角器：自動調(diào)節(jié)角度，從45°到90°，步徑0.01°
集成型量角器
- 手動調(diào)節(jié)入射角度，從35°到90°，步徑5°
- 樣品臺：直徑150mm，手動調(diào)節(jié)高度（20mm）
- 自動準(zhǔn)直系統(tǒng)（可選）
- 尺寸: 25cm*21cm*35cm
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