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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
日本HORIBA崛場(chǎng)瞬態(tài)熒光光譜儀Fluorolog-QMFluorolog-QM塊化科研級(jí)穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜HORIBA Fluorolog-QM 系列模塊化科研級(jí)熒光光譜儀是聞名于世的 HORIBA 第四代熒光光譜儀，**代于1975年由Spex Industries公司開(kāi)發(fā)Fluorolog-QM代表了數(shù)十年 HORIBA 的行業(yè)先進(jìn)經(jīng)驗(yàn)以及制造高水平和功能多樣性的熒光光譜儀的頂峰。
詳情介紹：
無(wú)錫區(qū)域供應(yīng)HORIBA崛場(chǎng)瞬態(tài)熒光光譜儀Fluorolog-QM
Fluorolog-QMTM獨(dú)特優(yōu)勢(shì)：
- 反射式光路設(shè)計(jì)，保證全波長(zhǎng)范圍性能優(yōu)化
- 高靈敏度保證
- 優(yōu)異的雜散光抑制比，像差校正長(zhǎng)焦長(zhǎng)單色儀（單級(jí)：350 mm，雙級(jí)：700 mm）
- 新一代專業(yè)分析軟件，滿足所有穩(wěn)態(tài)和壽命測(cè)試需求，具有多種全新功能
- 擴(kuò)展波長(zhǎng)范圍，從深紫外到近紅外區(qū)域
- 可同時(shí)連接4種光源和6個(gè)檢測(cè)器，且全部由電腦控制，實(shí)現(xiàn)多功能測(cè)試
- 即插即用，100 MHz脈沖光源，強(qiáng)化TCSPC壽命功能
- 近紅外穩(wěn)態(tài)和磷光壽命檢測(cè)波長(zhǎng)至5500 nm
- 優(yōu)化的光學(xué)設(shè)計(jì)，深紫外激發(fā)（低至180 nm），無(wú)臭氧
以下技術(shù)指標(biāo)適用于標(biāo)準(zhǔn)Fluorolog-QM-75-22系統(tǒng)。
可根據(jù)需求選配附件和升級(jí)。
| S/N | >35,000:1 FSD 水拉曼信噪比 |
| 數(shù)據(jù)獲取速度 | 1,000,000 點(diǎn)/秒到1 點(diǎn)/1000 秒 |
| 輸入 | 2 光子計(jì)數(shù) (TTL); 4 模擬(+/- 10 V); 1 模擬參考通道 (+/- 10 V); 2 TTL |
| 輸出 | 2 模擬 (+/- 10 V); 2 TTL |
| 發(fā)射檢查范圍(標(biāo)準(zhǔn)PMT) | 185 nm ~900 nm (~ 5500 nm可選) |
| 光源 | 高效綠色環(huán)保連續(xù) 75 W 氙燈 (450 W可選) |
| 激發(fā)和發(fā)射單色儀 | 350mm (單級(jí))，700mm (雙級(jí)), 三光柵塔倫, 慧差校正, 激發(fā)發(fā)射優(yōu)化,非對(duì)稱Czerny-Turner 光路設(shè)計(jì)，電腦控制入口、中間、出口狹縫。 |
| 狹縫 | 電腦控制，連續(xù)可調(diào) |
| 激發(fā)端光柵 | 1200 刻線/mm 300 nm閃耀, (可再選配2塊光柵) |
| 發(fā)射端光柵 | 1200 刻線/mm 400 nm閃耀, (可再選配2塊光柵) |
| 波長(zhǎng)準(zhǔn)確性 | +/- 0.3 nm |
| *小步進(jìn) | 0.01 nm* |
| 標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)方式 |
-20 ℃制冷（可選）, 檢測(cè)器室供電電壓1600 V;多模式：光子計(jì)數(shù)， 模擬(快、中、慢響應(yīng))， 單脈沖實(shí)時(shí)采集技術(shù)(SSTD) 和時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)(TCSPC)，標(biāo)配R928P檢測(cè)器（其他PMT可選） |
| R928P PMT暗噪聲 | 每秒小于10counts或更少 |
| R928P PMT*大光子線性響應(yīng) | 每秒10000000counts |
| 系統(tǒng)控制 | 電腦裝載 FelixFL 光譜軟件，包含穩(wěn)瞬態(tài)功能 |
| 壽命范圍 |
5 ps ~s(與不同的時(shí)間分辨部件相關(guān)) |
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