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產品詳情
簡單介紹：
MITAKA三鷹光器NH-3MAs非接觸式三坐標測量機微透鏡陣列（MLA）形狀光學表征設備它配備了NH系列的所有基本形狀測量功能，可以測量透鏡和模具的橫截面形狀，并用專用軟件集體測量曲率和中心坐標。
詳情介紹：
國內總代NH-3MAs非接觸式三坐標測量機MITAKA三鷹光器
長處
通過高精度圖像處理可以評估鏡頭的光學特性
評估項目 ： 有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF
同時測量多個微透鏡陣列 （MLA）
使用如下所示的測量光學系統用顯微鏡鏡頭放大平行光的集中圖像（針孔狹縫圖像），并由CCD相機捕獲圖像。 通過對圖像進行圖像處理來評估鏡頭的光學特性。
測量光學元件
多點微透鏡陣列（MLA）也可以同時測量
矩陣創建軟件
專用矩陣測量軟件可記憶陣列模式，實現平滑的自動測量。
它是MLA研發和質量控制的理想選擇，這些研發和質量控制變得越來越大。
諾馬斯基微分干涉觀測
NH的顯微鏡部分可以配備諾馬斯基微分干涉光學元件。
該光學系統可直觀地捕獲普通明場光學系統無法觀察到的數十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現場進行定量粗糙度和階梯測量。
帶有諾馬斯基光學器件的NH-3N
包含諾馬斯基法學院的
NH系列光路圖
測量功能
使用激光探頭測量透鏡形狀測量
?曲率半徑、中心坐標值
、圓度、頂點高度、XY坐標、橫截面
、3D形狀測量、各透鏡表面的表面粗糙度
測量
光學表征通過圖像處理測量
?有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各鏡頭的集光位置
、錯位、各鏡頭的對焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測量（可選）
通過高精度圖像處理可以評估鏡頭的光學特性
評估項目 ： 有效焦距 / 后焦 / 透射率 / 焦距 / 焦距 / 焦深 / MTF
同時測量多個微透鏡陣列 （MLA）
使用如下所示的測量光學系統用顯微鏡鏡頭放大平行光的集中圖像（針孔狹縫圖像），并由CCD相機捕獲圖像。 通過對圖像進行圖像處理來評估鏡頭的光學特性。
測量光學元件
多點微透鏡陣列（MLA）也可以同時測量
矩陣創建軟件
專用矩陣測量軟件可記憶陣列模式，實現平滑的自動測量。
它是MLA研發和質量控制的理想選擇，這些研發和質量控制變得越來越大。
它是MLA研發和質量控制的理想選擇，這些研發和質量控制變得越來越大。
諾馬斯基微分干涉觀測
NH的顯微鏡部分可以配備諾馬斯基微分干涉光學元件。
該光學系統可直觀地捕獲普通明場光學系統無法觀察到的數十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現場進行定量粗糙度和階梯測量。
該光學系統可直觀地捕獲普通明場光學系統無法觀察到的數十?的表面粗糙度和劃痕，并可以使用激光探頭在現場進行定量粗糙度和階梯測量。
帶有諾馬斯基光學器件的NH-3N
包含諾馬斯基法學院的
NH系列光路圖
NH系列光路圖
使用激光探頭測量透鏡形狀測量
?曲率半徑、中心坐標值
、圓度、頂點高度、XY坐標、橫截面
、3D形狀測量、各透鏡表面的表面粗糙度
測量
、圓度、頂點高度、XY坐標、橫截面
、3D形狀測量、各透鏡表面的表面粗糙度
測量
光學表征通過圖像處理測量
?有效焦距、后焦、有效MLA焦距、各鏡頭的集光位置
、錯位、各鏡頭的對焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測量（可選）
、錯位、各鏡頭的對焦光斑尺寸
、透射率
、焦
平面上的圖像形成評估（彗差、畸變等）、
景深（可選）
?MTF測量（可選）
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