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產品詳情
簡單介紹：
基于與NIMS共同開發的單顆粒診斷方法*的測量是可能的。
*
與國立材料科學研究所，弘前直人研究員和武田隆史研究員共同研究
詳情介紹：
產品信息
特殊長度
- 一種高靈敏度系統，可以測量一個熒光粉顆粒的熒光特性。
- 從1個粒子的提取到測量的系統化
- 可以測量10μm顆粒
- 從室溫到600°C的溫度相關測量是可能的
測量項目
- 量子效率（量子產率）
- 發射光譜
- 激發光譜
- 溫度特性
單顆粒診斷方法的測量流量
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| 合成熒光粉后，用激發光照射 | 1個粒子收集 | 測量熒光粉的特性 |
- 產品信息
- 設備配置
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