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產品名稱：日本大冢高速LED光學特性儀
產品型號：LE-SERIES-LE-5400
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

日本大冢高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400 日本大冢高速LED光學特性儀 LE-SERIES-LE-5400

詳情介紹：

高速LED光學特性儀　LE SERIES

高速LED光學特性儀 LE series LED的光學特性評價可同產線的控制信號同步，能在線高速運行的裝置。
LE-5400提供NG判定或級別分類等品質管理所必要的光學特性信息

產品信息

特　點

? 與產線的控制信號同步
? 通過光纖的自由的測試系統
? 實現*短2ms～的光譜測量（LE-5400）
? 同以往的產品相比，測量?演算?評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型

測量項目

三刺激值（kX, kY, kZ）*	〔JIS Z 8724〕
色度坐標(u, v)	〔CIE 1960UCS〕
色度坐標(x, y)	〔JIS Z 8724〕
色度坐標(u', v')	〔CIE 1976UCS〕
主波長（Dominant）和刺激純度（Purity）	〔JIS Z 8701〕
相關色溫度和Duv	〔JIS Z 8725〕
演色性評價數（Ra, R1～R15）	〔JIS Z 8726〕
峰值（λmax）的波長、高度、半值幅
**峰值的波長和高度
積分值（Summation）
重心波長
指定波長的高度
相比峰值波長的短波長側、長波長側的積分值

*　亮度(kY)的值，因測量的LED和檢出部的光學系不同，
只有在校準(距離、位置、方向)中有再現性時才算有效。

規格式樣

	LE-Series
分光方式	光柵分光 F=3 f=135 mm
感光元件	CCD (電子制冷)
測量波長范圍	380 ~ 960 nm	300 ~ 800 nm	330 ~ 1100 nm	350 ~ 930 nm
波長精度※1	±0.3 nm※2	±0.3 nm※2	±0.5 nm※2	±0.3 nm※2
光纖規格※3	長約2m，金屬包覆，固定口徑約12mm，與LED間的距離通常為2 ~ 8mm左右(視LED指向性而不同)
功率	*大100VA
尺寸	280（H） × 296（D） × 160（W）mm
重量	約10kg

※1波長校正用光源對汞物理輝線之確認值。
※2JIS Z 8724規格。
※3可變更光纖尺寸、長度

設備構成

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產品名稱：日本大冢高速LED光學特性儀

高速LED光學特性儀 LE SERIES

高速LED光學特性儀　LE SERIES