国产欧美日韩综合精品二区,三级黄色免费片,免费的很黄很污的视频

搜索

熱門搜索：

代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產業、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

產品中心

所在位置: 首頁> 產品目錄> OTSUKA大冢電子> 膜厚儀>

產品詳情

查看大圖

產品名稱：非接觸式光學膜厚儀
產品型號：AT-1500
產品廠商：OTSUKA大塚電子
產品價格：0
折扣價格：0
產品文檔：

你添加了1件商品查看購物車

簡單介紹：

非接觸式光學膜厚儀AT-1500 非接觸式光學膜厚儀AT-1500 非接觸式光學膜厚儀AT-1500

詳情介紹：

非接觸式光學膜厚儀

非接觸式光學膜厚儀本設備操作簡單，放置樣品即可測量的。一步到位。

縮短檢查工程，無標準曲線，精度高，分辨率高，輕松測量樣品的**厚度。

光學方式為大冢電子**，不僅外形小巧，無論透明?粗糙還是易變形的樣品，都可以實現非接觸式的高精度測量。

產品信息

特長

非接觸式測量不透明、粗糙，易變形的樣品
反復性?再現性高
無標準曲線也可知道**厚度
測量徑很小，不受斑點的影響
樣品位置無需調整，放進去即可。
穩定性高，不會產生誤差，所以誰都能操作。
光學方式原理所以**

式樣

atsumispec(1).gif

構成圖?原理

構成圖

任何人都會測量

原理

將光分別照射樣品上下部
測量距離基準面的距離。
d=dall-(d1+d2)

比較測量方法

樣品例子和測量方法的比較

		非接觸光學膜厚儀	接觸式膜厚儀	X線式膜厚儀	変位計
樣品	凝膠片	○	×	○	○
	不織布	○	×	○	×
	金屬板	○	○	○	○
	樹脂	○	○	○	○
	多孔質	○	△	○	×
	陶瓷	○	○	○	×
	紙?木	○	○	○	×
測量條件	測量時間	○ 高速	○	○	○
	非接觸測量	○ 非接觸	×	○	○
	前處理	○ 不要	○	×	○

測量案例

產品留言

標題

聯系人

聯系電話

內容

驗證碼

點擊換一張

注：1.可以使用快捷鍵Alt+S或Ctrl+Enter發送信息!
2.如有必要,請您留下您的詳細聯系方式!

蘇公網安備 32050502000409號

產品名稱：非接觸式光學膜厚儀

非接觸式光學膜厚儀