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OTSUKA大冢-動畫特性測量裝置MPRT-2000

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OTSUKA大冢-高靈敏度分光放射光度計HS-1000

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OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1

GC-1 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器實現真正的黑屏！把黑色的差異數值化。 OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1OTSUKA大冢-千兆對比度檢測器GC-1
OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS series

RETS series OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備從反射型·透射型的液晶封入單元到彩色過濾空單元的廣泛對應 OTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS seriesOTSUKA大冢-單元間隙檢查設備RETS series
OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF series

LCF series OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置 OTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF seriesOTSUKA大冢-濾色器分光特性測量裝置LCF series
OTSUKA大冢-量子點評系統

OTSUKA大冢-量子點評系統量子點材料具有根據粒子直徑不同發光波長發生變化的特性。在本系統中，在評價粒子直徑以及分散穩定性的同時，也可以對熒光特性進行評價。 OTSUKA大冢-量子點評系統OTSUKA大冢-量子點評系統OTSUKA大冢-量子點評系統
OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統

OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統熒光體1粒子的熒光特性可以測定的高靈敏度系統。 1從粒子的取出到測量的系統化。可以測量10μm的粒子。支持恒溫到600°C的溫度依賴性測量 OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統OTSUKA大冢-單粒子熒光診斷系統
OTSUKA大冢-高靈敏度NIR量子效率測定系統QE-5000

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OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000

DF-1000 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統快速測量透過熒光的面內色度分布 OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000OTSUKA大冢-在線熒光體薄膜檢測系統DF-1000
OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100

QE-2100 OTSUKA大冢-量子效率測量系統 OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100OTSUKA大冢-量子效率測量系統QE-2100
OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000

　QE-2000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統QE-2000
OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE series

LE series OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器是能夠使LED的光學特性評價與生產線的控制信號同步，在線內高速進行的裝置。 LE-5400提供NG判定和等級分類等質量管理所必需的光學特性信息。OTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE seriesOTSUKA大冢-高速LED光學特性監視器LE series
OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50

RH50 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統對應微LED等微小樣品的配光測定系統RH50.。與光學模擬軟件的聯合是可能的，可以簡單地高速取得2π空間全方位的光線。50×50mm尺寸以上請看GP-7 series。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統RH50
OTSUKA大冢-分光配光測量系統GP series

GP series OTSUKA大冢-分光配光測量系統測量照明設備配光特性的裝置。 OTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP seriesOTSUKA大冢-分光配光測量系統GP series
OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 1000

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OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統GP-7 series 600

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