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產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：HORIBA納米粒度及電位分析儀粒度儀SZ-100-Z2
產(chǎn)品型號： SZ-100-Z2
產(chǎn)品廠商：HORIBA堀場
產(chǎn)品價格：0
折扣價格：0
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簡單介紹：

總代HORIBA納米粒度及電位分析儀粒度儀SZ-100-Z2SZ-100-Z2 納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。

詳情介紹：

總代日本HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-Z2 國內(nèi)各區(qū)域供應(yīng)

總代日本HORIBA崛場納米顆粒分析儀粒度儀SZ-100-Z2

粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 μm

SZ-100V2 系列采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池，也可實現(xiàn)對小體積樣品的測量。

Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預(yù)測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數(shù) (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！

SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。
使用單臺設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量
HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（*低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。
HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。

SZ-100-Z2 測量規(guī)格（粒度和分子量測量規(guī)格與 SZ-100-S2 相同。）

型號	SZ-100-Z2（帶Zeta電位測量單元）
測量原理	Zeta 電位測量：激光多普勒電泳
測量范圍	-500 至 +500 mV
適合測量的尺寸范圍	小 2.0 nm，大 100 μm *4
測量電導率范圍	0 至 20 S/m*5
*大樣品濃度	40% *6
樣品池	石墨電極電位樣品池
測量時間	常規(guī)條件下約 2分鐘
所需樣品量	100 μL
分散劑	水

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產(chǎn)品名稱：HORIBA納米粒度及電位分析儀粒度儀SZ-100-Z2