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產品名稱：OTSUKA大塚膜厚監測儀FE-300
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo OTSUKA大塚膜厚監測儀FE-300

詳情介紹：

產品信息

特征

兼容從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
使用反射光譜分析薄膜厚度
緊湊、低成本、非接觸式、無損和高精度測量
易于設置條件和測量操作！任何人都可以輕松測量薄膜厚度
峰谷法、頻率分析法、非線性*小二乘法、優化法等可實現多種薄膜厚度測量
非線性*小二乘膜厚分析算法可實現光學常數分析（n：折射率，k：衰減計數）

測量項目

**反射率測量
薄膜厚度分析（10層）
光學常數分析（n：折射率，k：衰減計數）

測量對象

功能膜、塑料：
透明導電膜（ITO、銀納米線）、阻滯膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、膠粘劑、膠粘劑、保護膜、硬涂層、防指紋劑等。
半導體化合物半導體
、硅、氧化膜、氮化物膜、抗蝕劑、碳化硅、砷化鎵、氮化鎵、鎵、藍寶石等
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等
光學材料
濾光片、增透膜等
FPD
液晶顯示器（CF，ITO，LC，PI），OLED（有機膜，密封膠）等。
其他
硬盤、磁帶、建筑材料等

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產品名稱：OTSUKA大塚 膜厚監測儀FE-300

產品信息

產品名稱：OTSUKA大塚膜厚監測儀FE-300