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產品詳情
簡單介紹：
塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚 超快光譜干涉儀測厚儀
詳情介紹：
特征
- 非接觸式、非破壞性厚度測量
- 反射光學元件（可從一側接觸進行測量）
- 高速（*快5kHz）和實時評估
- 高穩定性（重復精度0.01%以下）
- 耐粗糙
- 可在任何距離使用
- 支持多層結構（*多 5 層）
- 內置NG數據抑制功能
特點1：用我們自己的技術
它支持廣泛的薄膜厚度范圍，并實現高波長分辨率。
大冢電子的獨特技術被封裝在一個緊湊的機身中。
特點2：高速響應
由于它甚至可以以**的間距進行測量，即使是移動的測量對象，
它也是工廠生產線的理想選擇。
特點3：與各種表面條件的樣品兼容
通過約φ20μm的微小光斑，即使在各種表面條件下也可以
測量厚度。
特點4：兼容各種環境
由于可以從*遠200 mm的距離進行測量，因此可以根據目的和應用構建
測量環境。
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