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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產業、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.

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產品名稱：蘇州代理Otsuka大塚納米SAQLA
產品型號：
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

一臺儀器可輕松連續測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現多個樣本的連續測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。支持從稀釋到厚系統標準測量時間 1 分鐘的高速測量自動調整從厚系統到稀薄樣品的*佳測量位置，實現約 1 分鐘的高速測量簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可開始測量），無需復雜的操作內置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔，每個細胞都是獨立的，因此無需擔心不成問題。配備溫度梯度功能，可輕松設置溫度

詳情介紹：

測量范圍（理論值）

粒徑 0.6nm~10μm
濃度范圍 0.00001-40%

溫度范圍 0 至 90°C*

規格

仕　様

型式	多検體ナノ粒子徑測定システム
測定原理	動的光散亂法（光子相関法）
光源	高出力半導體レーザー（660nm、70mW） ^*1
検出器	高感度APD
連続測定	*大5検體
測定範囲	0.6nm ～ 10μm
濃度範囲	0.00001 ～ 40% ^*2
溫度範囲	0 ～ 90℃ （溫度グラジエント機能あり） ^*3
サンプル容量	角セル：1.2mL～、微量セル：20μL～
サイズ	W240 X D480 X H375 mm
消費電力	AC 100～240V 50/60Hz、250VA
重量	約18 kg
ソフトウェア	平均粒子徑解析（キュムラント法）
	粒子徑分布解析（Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法）
	粒度分布重ね書き
	逆相関関數?殘差プロット
	粒子徑モニター
	粒子徑表示範囲（0.1 ～ 10⁶ nm）
	分子量計算機能
	21 CFR Part11対応 ^*4
オプション	微量セル（20μLから対応）、蛍光カットフィルター

*1 本裝置はレーザーに関する**基準（JIS C6802）のクラス1に區分される製品です
*2 PS Latex粒子：0.00001 ～ 10％、タウロコール酸：～40%
*3 パッチセルホルダーでカラスセルを使用する場合。
5連セルホルダーやディスポセルを使用する場合は 15 ～ 40℃
*4 オプションです

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蘇公網安備 32050502000409號

產品名稱：蘇州代理Otsuka大塚納米SAQLA

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