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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
它是一種可以在薄膜生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)在線測(cè)量薄膜厚度的設(shè)備。
通過(guò)將開(kāi)創(chuàng)的光譜干涉技術(shù)與新開(kāi)發(fā)的高精度膜厚計(jì)算處理技術(shù)相結(jié)合，可以以至少0.01的測(cè)量間隔測(cè)量寬度為500mm（使用一臺(tái)時(shí)）的膜厚秒。
詳情介紹：
- 采用線掃描方式，實(shí)現(xiàn)全尺寸薄膜檢測(cè)，無(wú)“遺漏”
- 只有專門(mén)從事膜厚測(cè)量的制造商才能提供的**支持
- 可以進(jìn)行高速高精度的測(cè)量
- 使用抗抖動(dòng)的光學(xué)系統(tǒng)
- 寬樣品（TD方向*大可測(cè)量10m）
- 硬件和軟件的原創(chuàng)設(shè)計(jì)
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