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產品詳情
簡單介紹：
高精度控制光軸！3σ≤0.02°用于
低延遲測量
詳情介紹：
特殊長度
- 可以從0 nm開始進行低（殘留）延遲測量
-
可以與光軸檢測同時進行延遲（Re。）的高速測量（
可以在0.1秒或更短的時間內完成處理，這相當于世界上*快的速度）。 - 由于沒有驅動單元，因此可實現高重復性
- 易于測量，只需設置很少的測量項目
- 除了550 nm的測量波長外，我們還有各種波長的產品系列。
-
可以進行Rth測量和全向測量
（需要可選的自動旋轉傾斜夾具） -
通過與拉伸測試儀結合使用，可以與薄膜的偏振特性同時評估光彈性
（該系統是定制的）。
測量項目
- 參考（ρ[°]，Re [nm]）
- 主軸方位角（θ°）
- 橢圓率（ε）/方位角（γ）
- 三維折射率（NxNyNz）
測量目標
- 相差膜，偏光膜，橢圓膜，視角改善膜，各種功能膜
- 透明和各向異性的物質，例如樹脂和玻璃（玻璃中的應變，變形等）
- 產品信息
- 原則
- 規格
- 測量例
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