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產品詳情

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產品名稱：OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)QE-2000
產品型號：　QE-2000
產品廠商：OTSUKA大塚電子
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簡單介紹：

　QE-2000 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)。 OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)QE-2000OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)QE-2000

詳情介紹：

QE-2000
OTSUKA大冢-高速近場配光測量系統(tǒng)。

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特長
拘泥于高精度測量。
能夠瞬間測量**量子效率(**量子收獲率)。
可以去除再激發(fā)熒光發(fā)光。
采用積分半球單元，實現(xiàn)明亮的光學系統(tǒng)。
低迷光多通道分光檢測器可顯著減少紫外區(qū)域中的混光。

拘泥于簡單的操作。
使用專用軟件輕松操作。
試樣測量用單元的拆卸容易。
小巧。
通過使用分光器類型的激發(fā)光源可以選擇任意波長。
通過在軟件上指定激發(fā)波長的波長和步長值，可以進行自動測量。

拘泥于多功能。
適用于粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜試樣。
豐富的分析功能

測定項目

量子効率（量子収率）測定
勵起波長依存性測定
発光スペクトル測定
PL勵起スペクトル測定
EEM（Excitation Emission Matrix）測定

用　途

LED、有機EL用蛍光體の量子効率（量子収率）測定
フィルム狀試料の透過蛍光?反射蛍光の量子効率（量子収率）測定
-　リモートフォスファー用蛍光體サンプルなど
量子ドット、蛍光プローブ、生體分野、包接化合物等の蛍光測定
色素増感型太陽電池の量子効率（量子収率）測定
錯體化合物の測定

高精度な理由

1.積分半球による理想的な光學系

QE-2000は、積分半球を搭載しています。積分半球は、積分球（全球）に比べて下記のような特長があります

非発光部分（ホルダーなど）を外部に出すことができるため自己吸収を小さく抑えることが可能であり、理想的な光學系を実現(xiàn)できる
ミラーにより同一ポイントの照度が約2倍となり、感度よく測定ができる
試料測定用セルの脫著が容易であり、積分球內部を傷めるリスクが少ない

2.再勵起蛍光補正機能により”真の物性値”を観測

再勵起蛍光発光を含んだ狀態(tài)では、材料そのものの物性の観測ではなく、裝置の特性を含んだ観測となり、真の物性値を求めることができません。QE-2000は、積分半球の利點を生かした再勵起蛍光補正により、簡便にそして精度の高い測定をおこなうことができます。

3.低迷光マルチチャンネル分光検出器により紫外域の迷光を低減

従來の検出器（ポリクロメータ）では、紫外領域の迷光が高く検出されたため、量子効率（量子収率）の測定に向いているとは言えませんでした。大塚電子では、迷光を除去する技術を開発し、この問題を解決しました。QE-2000に搭載しているマルチチャンネル分光検出器は當社従來品に比べて迷光量約1/5を実現(xiàn)しており、紫外域においても精度の高い測定を可能としています。