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UV曝光裝置
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uv固化裝置
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紫外可見光光度計(jì)
OTSUKA大冢-紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)
紫外LED的配光特性.。
·根據(jù)放射強(qiáng)度/放射光照度的配光評(píng)價(jià)。
·通過分光配光評(píng)價(jià)每個(gè)波長(zhǎng)的放射強(qiáng)度。
使**和樹脂硬化光源的照射不均可視化。
特長(zhǎng):
通過分光配光對(duì)紫外光進(jìn)行高精度測(cè)定。
評(píng)估光束分布到紫外光的*大光度、光束打開和光束通量。
覆蓋從紫外到可見的波長(zhǎng)范圍。
支持從LED芯片到模塊、應(yīng)用等多種樣本。
軟件集中控制電源和測(cè)量?jī)x表
測(cè)試項(xiàng)目：
配光-紫外輻射強(qiáng)度或輻射強(qiáng)度下的角度分布。
*大光度，光束打開，光束通量。
輻照度、輻射強(qiáng)度和輻射強(qiáng)度。
全光束。
分鐘光亮數(shù)據(jù)。
以光分布測(cè)量系統(tǒng)為準(zhǔn)的測(cè)量項(xiàng)目。
全光束，色度坐標(biāo)xy，uv，u‘v。
相關(guān)色溫、Duv、主波長(zhǎng)、刺激純度。
演色性評(píng)價(jià)Ra，R1~R15。
峰值波長(zhǎng)、半寬度
OTSUKA大冢-紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)GP-2000OTSUKA大冢-紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng)GP-2000
＊1 ： 測(cè)定時(shí)にサンプルを設(shè)置する向き。
ベースダウン：水平面上への設(shè)置
ベースサイド：鉛直面上への設(shè)置
＊2 ： 配光測(cè)定における測(cè)定波長(zhǎng)範(fàn)囲は250～850nm
＊3 ： オプション品につきましては 全光束測(cè)定システム の仕様ページをご參照ください
裝置構(gòu)成
卓上タイプ裝置。水平面に対してLEDチップを配置して測(cè)定します。
受光部側(cè)1軸、サンプル側(cè)1軸の駆動(dòng)系です。
平面にサンプルが設(shè)置できるため測(cè)定再現(xiàn)性や位置調(diào)整が簡(jiǎn)単です。
LEDチップなどサンプルが小さく取り付けが難しいものの測(cè)定に向いています。
卓上タイプ裝置。一般的な配光裝置の光學(xué)系です。
受光部とサンプル部の高さが同じでサンプル側(cè)が2軸の駆動(dòng)系をもちます。
チップタイプから小型のモジュールサンプルまで広く取り扱えます。
大型裝置。設(shè)置には暗室を一部屋使うほどの場(chǎng)所が必要です。
投光器などの大型で重量のある光源を測(cè)定する場(chǎng)合の裝置です。
測(cè)定例
UV-LED是分光配光測(cè)定的結(jié)果.。
配光曲線以放射強(qiáng)度為基準(zhǔn)進(jìn)行描繪。
從通過配光測(cè)定得到的各θ的分光放射強(qiáng)度中，將球帶系數(shù)法。
通過使用，能夠取得從UV-LED被放射的分光全放射束.
2.如有必要,請(qǐng)您留下您的詳細(xì)聯(lián)系方式!
